想必大家都比較熟悉LUM公司的分散體穩(wěn)定性分析系列的儀器，而實(shí)際上我們LUM公司的slogan是—-—- “The Next Step in Dispersion Analysis & Materials Testing”。既然如此，除了分散體分析，我們當(dāng)然還有材料測(cè)試相關(guān)的儀器啦！所以這次我們將介紹一款有關(guān)粘結(jié)力/附著力/粘結(jié)強(qiáng)度的分析儀—Adhesion Analyser LUMiFrac®

LUMiFrac® 的測(cè)試組件示意圖如圖（1），測(cè)試組件是由幾部分組成——-待測(cè)樣品/基材（substrate），樣品基材表面的涂層(coating)，測(cè)試基座(test stamp)，待測(cè)樣品涂層與測(cè)試基座之間的膠粘劑(adhesives)，測(cè)試基座外面搭配的套筒(sleeve)。當(dāng)待測(cè)樣品的表面與測(cè)試基座用合適的膠粘劑粘結(jié)起來以后，經(jīng)過一定時(shí)間和溫度的固化，再將整個(gè)測(cè)試組件放置于配套的檢測(cè)模塊（module）中。后將測(cè)試模塊放進(jìn)LUMiFrac® 的樣品槽位即可。

Figure 1

LUMiFrac® 的測(cè)試組件制備過程如圖（2）

步驟1—在測(cè)試基座的表面選擇合適的膠粘劑

步驟2—將套筒放置在待測(cè)樣品上（更好地完成樣品表面與測(cè)試基座的粘結(jié)）

步驟3—將涂有膠粘劑的測(cè)試基座經(jīng)由套筒放入，與待測(cè)樣品進(jìn)行粘結(jié)

步驟4—固化，完成粘結(jié)和測(cè)試組件的制備

步驟5—檢測(cè)模塊與待測(cè)樣品組裝，放入儀器的樣品槽位

Figure 2

LUMiFrac®采用的技術(shù)稱為CAT技術(shù)，如圖（3）所示——在測(cè)試過程中，隨著轉(zhuǎn)速的逐漸增加，垂直的徑向離心力FC 逐漸升高，因此也逐漸增加了樣品系統(tǒng)的負(fù)荷。當(dāng)超過臨界強(qiáng)度時(shí)，接頭斷裂，測(cè)試基座(test stamp)在其套筒(sleeve)內(nèi)移位。在斷裂的這一時(shí)刻，相應(yīng)位置的信號(hào)會(huì)自動(dòng)和即時(shí)地從配套的檢測(cè)模塊（module）中發(fā)出。通過這個(gè)信號(hào)，轉(zhuǎn)速和斷裂的時(shí)間，斷裂時(shí)候的力和強(qiáng)度會(huì)被自動(dòng)記錄。

SEPView7®軟件通過公式（1）自動(dòng)計(jì)算離心力/拉力。公式（2）考慮了測(cè)試基座的質(zhì)量m、到旋轉(zhuǎn)軸的距離r和當(dāng)前的旋轉(zhuǎn)速度ω。通過將力與幾何結(jié)合面積A相關(guān)聯(lián)，進(jìn)而計(jì)算出相應(yīng)的強(qiáng)度σ。

Figure 4

圖（4）列舉了LUMiFrac®  常見的應(yīng)用領(lǐng)域。LUMiFrac®的優(yōu)勢(shì)眾多，樣品通道是8個(gè)，可以測(cè)試各種不同的材料，負(fù)載范圍高達(dá) 6.5 kN，拉伸強(qiáng)度高達(dá)80 MPa，符合ISO 4624;JIS K 5600-5-7;DIN EN 15870;DIN EN 14869-2等眾多標(biāo)準(zhǔn)。

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